Transistor metrology

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Transactions of the I.R.E. Professional Group on Electron Devices 1954-08, Vol.ED-1 (3), p.12-17
1. Verfasser:	Alsberg, D.A.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Current measurement Cutoff frequency Distortion measurement Joining processes Junctions Magnetic field measurement Transistors
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