Modeling of Near Zero-Field Magnetoresistance and Electrically Detected Magnetic Resonance in Irradiated Si/SiO 2 MOSFETs

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	IEEE transactions on nuclear science 2020-07, Vol.67 (7), p.1669-1673
Hauptverfasser:	Harmon, Nicholas J., Mcmillan, Stephen R., Ashton, James P., Lenahan, Patrick M., Flatte, Michael E.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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