Discussion on "A Reduction Technique for Obtaining Simplified Reliability Expression"
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Veröffentlicht in: | IEEE transactions on nuclear science 2003-12, Vol.50 (6), p.2494-2494 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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ISSN: | 0018-9499 1558-1578 |
DOI: | 10.1109/TNS.2003.820635 |