Discussion on "A Reduction Technique for Obtaining Simplified Reliability Expression"

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:IEEE transactions on nuclear science 2003-12, Vol.50 (6), p.2494-2494
Hauptverfasser: Messenger, S.R., Burke, E.A., Summers, G.P., Xapsos, M.A., Walters, R.J., Jackson, E.M., Weaver, B.D.
Format: Artikel
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0018-9499
1558-1578
DOI:10.1109/TNS.2003.820635