Measurements of optical wavelength ratios using a compensated field sigmameter

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	IEEE transactions on instrumentation and measurement 1991-04, Vol.40 (2), p.200-203, Article 200
Hauptverfasser:	Himbert, M., Bouchareine, P., Hachour, A., Juncar, P., Millerioux, Y., Razet, A.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Atom optics Atomic measurements Exact sciences and technology Frequency Interference Metrology, measurements and laboratory procedures Optical interferometry Optical mixing Optical refraction Oscillators Phase measurement Physics Wavelength measurement
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