Normally-Off High-Performance Diamond FET With Large V TH and Low Leakage Current

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	IEEE transactions on electron devices 2025-01, Vol.72 (1), p.12-16
Hauptverfasser:	Liang, Yuesong, Wang, Wei, Niu, Tianlin, Chen, Genqiang, Wang, Fei, Du, Yuxiang, Zhang, Minghui, Wang, Yanfeng, Wen, Feng, Wang, Hong-Xing
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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