$Insights Into the Behavior of Leakage Current and Switching Instability in Lateral $\beta $-Ga$_{\text{2}}$O$_{\text{3}}$ MOSFETs$

Insights Into the Behavior of Leakage Current and Switching Instability in Lateral $\beta $-Ga$_{\text{2}}$O$_{\text{3}}$ MOSFETs

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	IEEE transactions on electron devices 2024, p.1-5
Hauptverfasser:	Chen, Zequan, Smith, Matthew, Higashiwaki, Masataka, Kuball, Martin
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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