Amorphous IGZO MIS Phototransistor With HfO 2 Gate Dielectrics for High Sensitivity Solar-Blind Ultraviolet Detection

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:IEEE transactions on electron devices 2024-11, Vol.71 (11), p.6743-6748
Hauptverfasser: Yao, Jichun, Liu, Shining, Liu, Xingzhao
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0018-9383
1557-9646
DOI:10.1109/TED.2024.3457573