Electrical Performance Determination and Stress Reliability Estimation of ALD- Derived Er 2 O 3 /InP Heterointerface

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	IEEE transactions on electron devices 2023-12, Vol.70 (12), p.6125-6131
Hauptverfasser:	Qiao, Lesheng, He, Gang, Jiang, Shanshan, Liu, Yanmei, Lu, Jinyu, Wu, Qiuju, Fang, Zebo
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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