Ab Initio Computational Screening and Performance Assessment of van der Waals and Semimetallic Contacts to Monolayer WSe 2 P-Type Field-Effect Transistors

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	IEEE transactions on electron devices 2023-04, Vol.70 (4), p.2090-2097
Hauptverfasser:	Yang, Ning, Lin, Yuxuan Cosmi, Chuu, Chih-Piao, Rahman, M. Saifur, Wu, Tong, Chou, Ang-Sheng, Chen, Hung-Yu, Woon, Wei-Yen, Liao, Szuya Sandy, Huang, Shengxi, Qian, Xiaofeng, Guo, Jing, Radu, Iuliana, Wong, H.-S. Philip, Wang, Han
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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