Stabilizing Schemes for the Minority Failure Bits in Ta 2 O 5 -Based ReRAM Macro

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	IEEE transactions on electron devices 2017-02, Vol.64 (2), p.419-426
Hauptverfasser:	Ueki, Makoto, Hayashi, Yoshihiro, Furutake, Naoya, Masuzaki, Koji, Tanabe, Akira, Narihiro, Mitsuru, Sunamura, Hiroshi, Uejima, Kazuya, Mitsuiki, Akira, Takeda, Koichi, Hase, Takashi
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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