Conference Reports

Reports from Workshop on System Effects of Logic Soft Errors (SELSE II), IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems Workshop (DDECS 06), European Test Symposium (ETS 06), and International Test Conference (ITC 05).

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	IEEE design & test of computers 2006-04, Vol.23 (4), p.262-265
Hauptverfasser:	Subhasish, M., Novak, O., Kubatova, H., Al-Hashimi, B.M., Marinissen, E.J., Ravikumar, C.P.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	conference report Logic Soft Errors
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Reports from Workshop on System Effects of Logic Soft Errors (SELSE II), IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems Workshop (DDECS 06), European Test Symposium (ETS 06), and International Test Conference (ITC 05).
ISSN:	0740-7475 2168-2356 1558-1918 2168-2364
DOI:	10.1109/MDT.2006.91