Defect Mitigation in Lead-Free Cs 3 Bi 2 I 9 Single Crystals for High Performance X-Ray Detection and Imaging

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	IEEE electron device letters 2024-06, Vol.45 (6), p.1036-1039
Hauptverfasser:	Liu, Jiayang, Chen, Yuangan, Tan, Pengju, Liu, Tianyu, Hu, Mingzhu, Sun, Mulin, Cheng, Long, Ma, Xiaolan, Zhang, Yunlong, Hu, Qin
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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