Degradation of β-Ga 2 O 3 Vertical Ni/Au Schottky Diodes Under Forward Bias

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	IEEE electron device letters 2023-05, Vol.44 (5), p.725-728
Hauptverfasser:	Sun, Rujun, Balog, Andrew R., Yang, Haobo, Alem, Nasim, Scarpulla, Michael A.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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