320×256 Extended Wavelength In x Ga 1-x As/InP Focal Plane Arrays: Dislocation Defect, Dark Signal and Noise

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	IEEE journal of selected topics in quantum electronics 2022-03, Vol.28 (2: Optical Detectors), p.1-11
Hauptverfasser:	Ma, Yingjie, Li, Xue, Shao, Xiumei, Deng, Shuangyan, Cheng, Jifeng, Gu, Yi, Liu, Yage, Chen, Yu, Zhu, Xianliang, Li, Tao, Zhang, Yonggang, Gong, Haimei, Fang, Jiaxiong
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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