Overview of Beyond-CMOS Devices and a Uniform Methodology for Their Benchmarking

Presents a prolog to the article, "Overview of Beyond-CMOS Devices and a Uniform Methodology for Their Benchmarking".

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Proceedings of the IEEE 2013-12, Vol.101 (12), p.2495-2497
1. Verfasser:	Esch, Jim
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Adders Benchmark testing CMOS technology Integrated circuits Nanoelectronics Power dissipation Semiconductor devices Special issues and sections Throughput
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