On the Low-Frequency Noise Characterization of Z 2 -FET Devices

On the Low-Frequency Noise Characterization of Z 2 -FET Devices

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:IEEE access 2019, Vol.7, p.42551-42556
Hauptverfasser: Marquez, Carlos, Navarro, Carlos, Navarro, Santiago, Padilla, Jose L., Donetti, Luca, Sampedro, Carlos, Galy, Philippe, Kim, Yong-Tae, Gamiz, Francisco
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:2169-3536
2169-3536
DOI:10.1109/ACCESS.2019.2907062