Thermal cycling induced wiping wear of connector contacts at 150°C

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:IEEE transactions on components and packaging technologies 1999-03, Vol.22 (1), p.72-78
Hauptverfasser: Leung, C.H., Lee, A.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:1521-3331
DOI:10.1109/6144.759355