Ptychography-based resolution-enhanced X-ray fluorescence microscopy using deep neural networks

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Acta crystallographica. Section A, Foundations and advances Foundations and advances, 2023-08, Vol.79 (a2), p.C491-C491
Hauptverfasser:	Wu, Longlong, Bak, Seongmin, Shin, Youngho, Chu, Yong S., Yoo, Shinjae, Robinson, Ian K., Huang, Xiaojing
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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