$High-pressure X-ray imaging and diffraction on the Psiché beamline: recent results and developments using large-volume presses$

High-pressure X-ray imaging and diffraction on the Psiché beamline: recent results and developments using large-volume presses

Abstract only

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Acta crystallographica. Section A, Foundations and advances Foundations and advances, 2019-08, Vol.75 (a2), p.e269-e269
Hauptverfasser:	Itié, Jean-Paul, Deslandes, Jean-Pierre, Guignot, Nicolas, King, Andrew
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!