Study of multilayer microstructure by XRD using noncoplanar measurement geometry

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Acta crystallographica. Section A, Foundations and advances Foundations and advances, 2017-12, Vol.73 (a2), p.C555-C555
Hauptverfasser:	Ulyanenkov, Alexander, Vlasenko, Svetlana, Uglov, Vladimir, Abadias, Grégory, Benediktovitch, Andrei, O'Connell, Jacques, van Vuuren, Arno Janse
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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