Study of thermal behaviour of oxygen in silicon crystals by analysis of X-ray Pendellösung fringes
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Veröffentlicht in: | Acta crystallographica. Section A, Foundations of crystallography Foundations of crystallography, 1994-11, Vol.50 (6), p.725-730 |
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Hauptverfasser: | , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext |
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Zusammenfassung: | |
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ISSN: | 0108-7673 1600-5724 |
DOI: | 10.1107/S0108767394004332 |