Parametric XRD profile analysis of SnO 2 crystallite growth

Abstract only

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Acta crystallographica. Section A, Foundations of crystallography Foundations of crystallography, 2011-08, Vol.67 (a1), p.C245-C245
Hauptverfasser: Gispert-Guirado, F., Pavelko, R. G., Llobet, E.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:Abstract only
ISSN:0108-7673
DOI:10.1107/S0108767311093883