$Automated in situ diffraction screening at beamline X06DA at the Swiss Light Source$

Automated in situ diffraction screening at beamline X06DA at the Swiss Light Source

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Acta crystallographica. Section A, Foundations of crystallography Foundations of crystallography, 2011-08, Vol.67 (a1), p.C279-C279
Hauptverfasser:	Wang, M., Olieric, V., Stirnimann, C., Bingel-Erlenmeyer, R., Schneider, J., Gabadinho, J., Panepucci, E., Tomizaki, T., Wang, X., Schneider, R., Pradervand, C., Glettig, W., Isenegger, A., Schulze-Briese, C.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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