X-ray Moiré Topography on SIMOX Structures

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Journal of applied crystallography 1996-10, Vol.29 (5), p.568-573
Hauptverfasser:	Ohler, M., Prieur, E., Härtwig, J.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Condensed matter: structure, mechanical and thermal properties Exact sciences and technology Physics Single-crystal and powder diffraction Structure of solids and liquids crystallography X-ray diffraction and scattering
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