$EDIM 93: a program for electron diffraction intensity measurement from photographic data$

EDIM 93: a program for electron diffraction intensity measurement from photographic data

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Journal of applied crystallography 1994-06, Vol.27 (3), p.430-432
Hauptverfasser:	Cheng, T. Z., Wang, J. F., Wan, Z. H., Sha, B. D.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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