Oxygen and silicon point defects in Al 0.65 Ga 0.35 N

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Physical review materials 2019-05, Vol.3 (5), Article 054604
Hauptverfasser: Harris, Joshua S., Gaddy, Benjamin E., Collazo, Ramón, Sitar, Zlatko, Irving, Douglas L.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:2475-9953
2475-9953
DOI:10.1103/PhysRevMaterials.3.054604