$Anomalous X-Ray Yields under Surface Wave Resonance during Reflection High Energy Electron Diffraction and Adatom Site Determination$

Anomalous X-Ray Yields under Surface Wave Resonance during Reflection High Energy Electron Diffraction and Adatom Site Determination

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Physical review letters 2000-05, Vol.84 (19), p.4389-4392
Hauptverfasser:	Yamanaka, Toshiro, Ino, Shozo
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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