Determination of Atom-Surface van der Waals Potentials from Transmission-Grating Diffraction Intensities

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Physical review letters 1999-08, Vol.83 (9), p.1755-1758
Hauptverfasser: Grisenti, R. E., Schöllkopf, W., Toennies, J. P., Hegerfeldt, G. C., Köhler, T.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0031-9007
1079-7114
DOI:10.1103/PhysRevLett.83.1755