High-Fidelity Universal Gate Set for Be 9 + Ion Qubits

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Physical review letters 2016-08, Vol.117 (6), Article 060505
Hauptverfasser:	Gaebler, J. P., Tan, T. R., Lin, Y., Wan, Y., Bowler, R., Keith, A. C., Glancy, S., Coakley, K., Knill, E., Leibfried, D., Wineland, D. J.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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