Dissociative Chemisorption of O 2 Inducing Stress Corrosion Cracking in Silicon Crystals

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Physical review letters 2014-03, Vol.112 (11), Article 115501
Hauptverfasser: Gleizer, Anna, Peralta, Giovanni, Kermode, James R., De Vita, Alessandro, Sherman, Dov
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0031-9007
1079-7114
DOI:10.1103/PhysRevLett.112.115501