Probing defect states in few-layer MoS 2 by conductance fluctuation spectroscopy

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Physical review. B 2019-06, Vol.99 (24), Article 245419
Hauptverfasser:	Sarkar, Suman, Bid, Aveek, Ganapathi, K. Lakshmi, Mohan, Sangeneni
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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