Determining fundamental properties from diffraction: Electric field induced strain and piezoelectric coefficient

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Physical review. B 2019-05, Vol.99 (17), Article 174107
Hauptverfasser: Hinterstein, M., Lee, K.-Y., Esslinger, S., Glaum, J., Studer, A. J., Hoffman, M., Hoffmann, M. J.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:2469-9950
2469-9969
DOI:10.1103/PhysRevB.99.174107