In situ spectroscopy of intrinsic Bi 2 Te 3 topological insulator thin films and impact of extrinsic defects

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Physical review. B, Condensed matter and materials physics Condensed matter and materials physics, 2015-07, Vol.92 (3), Article 035405
Hauptverfasser:	Ngabonziza, P., Heimbuch, R., de Jong, N., Klaassen, R. A., Stehno, M. P., Snelder, M., Solmaz, A., Ramankutty, S. V., Frantzeskakis, E., van Heumen, E., Koster, G., Golden, M. S., Zandvliet, H. J. W., Brinkman, A.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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