Measuring charge trap occupation and energy level in CdSe/ZnS quantum dots using a scanning tunneling microscope

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Physical review. B, Condensed matter and materials physics Condensed matter and materials physics, 2010-03, Vol.81 (11), Article 115439
Hauptverfasser: Hummon, M. R., Stollenwerk, A. J., Narayanamurti, V., Anikeeva, P. O., Panzer, M. J., Wood, V., Bulović, V.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:1098-0121
1550-235X
DOI:10.1103/PhysRevB.81.115439