Modeling the compositional dependence of electron diffraction in dilute GaAs- and GaP-based compound semiconductors

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Physical review. B, Condensed matter and materials physics Condensed matter and materials physics, 2008-08, Vol.78 (7), Article 075207
Hauptverfasser: Rubel, O., Németh, I., Stolz, W., Volz, K.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:1098-0121
1550-235X
DOI:10.1103/PhysRevB.78.075207