Quantitative analysis of Si mass transport during formation of Cu ∕ Si ( 111 ) − ( 5 × 5 ) from scanning tunneling microscopy

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Physical review. B, Condensed matter and materials physics Condensed matter and materials physics, 2007-02, Vol.75 (7), Article 073407
Hauptverfasser: Zhang, Y. P., Yong, K. S., Chan, H. S. O., Xu, G. Q., Chen, S., Wang, X. S., Wee, A. T. S.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:1098-0121
1550-235X
DOI:10.1103/PhysRevB.75.073407