Importance of charging in atomic resolution scanning tunneling microscopy: Study of a single phosphorus atom in a Si ( 001 ) surface

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Veröffentlicht in:	Physical review. B, Condensed matter and materials physics Condensed matter and materials physics, 2006-09, Vol.74 (11), Article 113311
Hauptverfasser:	Radny, M. W., Smith, P. V., Reusch, T. C. G., Warschkow, O., Marks, N. A., Wilson, H. F., Curson, N. J., Schofield, S. R., McKenzie, D. R., Simmons, M. Y.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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