Evaluation of the van der Waals force for atomic force microscopy

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Physical review. B, Condensed matter and materials physics Condensed matter and materials physics, 2005-07, Vol.72 (3), Article 033410
1. Verfasser:	Bruch, L. W.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!