Method to determine defect positions below a metal surface by STM

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Physical review. B, Condensed matter and materials physics Condensed matter and materials physics, 2005-03, Vol.71 (11), p.115430.1-115430.8, Article 115430
Hauptverfasser:	AVOTINA, Ye. S, KOLESNICHENKO, Yu. A, OMELYANCHOUK, A. N, OTTE, A. F, VAN RUITENBEEK, J. M
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Composition defects and impurities Condensed matter: structure, mechanical and thermal properties Exact sciences and technology Physics Solid surfaces and solid-solid interfaces Surfaces and interfaces thin films and whiskers (structure and nonelectronic properties)
Online-Zugang:	Volltext
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