X-ray studies of Si/Ge/Si(001) epitaxial growth with Te as a surfactant

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Physical Review, B: Condensed Matter B: Condensed Matter, 2003-01, Vol.67 (3), Article 035404
Hauptverfasser:	Tinkham, B. P., Goodner, D. M., Walko, D. A., Bedzyk, M. J.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	EPITAXY GERMANIUM MATERIALS SCIENCE NATIONAL SYNCHROTRON LIGHT SOURCE SILICON SURFACTANTS TELLURIUM X-RAY DIFFRACTION
Online-Zugang:	Volltext
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