Quantitative analysis of twist boundaries and stacking faults in Bi-based superconductors by parallel recording of dark-field images with a coherent electron source
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| Veröffentlicht in: | Physical review. B, Condensed matter Condensed matter, 2002-09, Vol.66 (10), Article 104517 |
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| Format: | Artikel |
| Sprache: | eng |
| Online-Zugang: | Volltext |
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