Quantitative analysis of twist boundaries and stacking faults in Bi-based superconductors by parallel recording of dark-field images with a coherent electron source

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Physical review. B, Condensed matter Condensed matter, 2002-09, Vol.66 (10), Article 104517
Hauptverfasser:	Wu, Lijun, Zhu, Yimei, Tafto, J., Welch, D. O., Suenaga, M.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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