Ballistic-electron-emission microscopy of conduction-electron surface states

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Physical review. B, Condensed matter Condensed matter, 2000-03, Vol.61 (11), p.7161-7164
Hauptverfasser: Weilmeier, M. K., Rippard, W. H., Buhrman, R. A.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0163-1829
1095-3795
DOI:10.1103/PhysRevB.61.7161