Defect energetics and impurity incorporation mechanisms at the arsenic-passivated Si(100) surface
Gespeichert in:
Veröffentlicht in: | Physical review. B, Condensed matter Condensed matter, 1999-09, Vol.60 (11), p.8178-8184 |
---|---|
Hauptverfasser: | , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Online-Zugang: | Volltext |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Zusammenfassung: | |
---|---|
ISSN: | 0163-1829 1095-3795 |
DOI: | 10.1103/PhysRevB.60.8178 |