Coupling of ultrathin InAs layers as a tool for band-offset determination

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Physical review. B, Condensed matter Condensed matter, 1999-04, Vol.59 (15), p.10315-10326
Hauptverfasser: Brübach, J., Silov, A. Yu, Haverkort, J. E. M., Vleuten, W. v. d., Wolter, J. H.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0163-1829
1095-3795
DOI:10.1103/PhysRevB.59.10315