Erratum: Surface resonance of thin films of the Heusler half-metal Co 2 MnSi probed by soft x-ray angular resolved photoemission spectroscopy [Phys. Rev. B 99 , 174432 (2019)]
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Veröffentlicht in: | Physical review. B 2024-02, Vol.109 (5), Article 059901 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Online-Zugang: | Volltext |
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ISSN: | 2469-9950 2469-9969 |
DOI: | 10.1103/PhysRevB.109.059901 |