Erratum: Surface resonance of thin films of the Heusler half-metal Co 2 MnSi probed by soft x-ray angular resolved photoemission spectroscopy [Phys. Rev. B 99 , 174432 (2019)]

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Physical review. B 2024-02, Vol.109 (5), Article 059901
Hauptverfasser: Lidig, Christian, Minár, Jan, Braun, Jürgen, Ebert, Hubert, Gloskovskii, Andrei, Krieger, Jonas A., Strocov, Vladimir, Kläui, Mathias, Jourdan, Martin
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:2469-9950
2469-9969
DOI:10.1103/PhysRevB.109.059901