Suppression of gate screening on edge magnetoplasmons by highly resistive ZnO gate

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Physical review. B 2020-05, Vol.101 (20), Article 205205
Hauptverfasser: Kumada, N., Tu, N.-H., Sasaki, K.-i., Ota, T., Hashisaka, M., Sasaki, S., Onomitsu, K., Muraki, K.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:2469-9950
2469-9969
DOI:10.1103/PhysRevB.101.205205