Device Physics of Contact Issues for the Overestimation and Underestimation of Carrier Mobility in Field-Effect Transistors

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Physical review applied 2017-09, Vol.8 (3), Article 034020
Hauptverfasser:	Liu, Chuan, Li, Gongtan, Di Pietro, Riccardo, Huang, Jie, Noh, Yong-Young, Liu, Xuying, Minari, Takeo
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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