Geometry dependence of two-level-system noise and loss in a - Si C : H parallel-plate capacitors for superconducting microwave resonators

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Physical review applied 2024-04, Vol.21 (4), Article 044036
Hauptverfasser:	Kouwenhoven, K., van Doorn, G.P.J., Buijtendorp, B.T., de Rooij, S.A.H., Lamers, D., Thoen, D.J., Murugesan, V., Baselmans, J.J.A., de Visser, P.J.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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