Investigation of the Si O 2 - Si C Interface Using Low-Energy Muon-Spin-Rotation Spectroscopy

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Physical review applied 2023-05, Vol.19 (5), Article 054025
Hauptverfasser: Kumar, Piyush, Martins, Maria Inês Mendes, Bathen, Marianne Etzelmüller, Woerle, Judith, Prokscha, Thomas, Grossner, Ulrike
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:2331-7019
2331-7019
DOI:10.1103/PhysRevApplied.19.054025